蛍光X線式膜厚測定器 XDV-SDD
XDV-SDDは、 非常に薄い皮膜の膜厚測定や微量成分分析が可能であり、 高度な要求に対応することができるハイエンドモデルの蛍光X線式測定器です。
○プログラム機能付きXYステージ及びZ軸を搭載
○高分解能なシリコン・ドリフト検出器を搭載
○メッキ膜厚測定のほか、 規制物質のPb、 Cd、 Hgといった元素のスクリーニング分析が可能
○NiPにおいてニッケルとリンのそれぞれの膜厚測定と同時にリン濃度分析が一度に測定可能
¥16,797,000(税込)〜 株式会社 フィッシャー・インストルメンツ 048-929-3455